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Y型分子筛

Y型分子筛.jpg


Y型分子筛类似金刚石的密堆六方晶系结构。若以β笼为结构单位,取代金刚石的碳原子结点,且用六方柱笼将相邻的β联结,即用4个六方柱将5个β笼联结一起,其中一个β笼居中心,其余4个β笼位于正四面体顶点,就形成了八面体沸石型的晶体结构。用这种结构继续联结下去,就得到Y型分子筛结构。在这种结构中,由β笼和六方柱笼形成的大笼为八面沸石笼,它们相通的窗孔为十二元环,其平均有效孔径为0.74nm,这就是Y-型分子筛的孔径。X型分子筛和Y型分子筛结构完全相同,只是Y型分子筛硅铝比高,水热稳定性强,因而用途更加广泛。

经后处理改性的Y型分子筛是流化催化裂化催化剂的主活性组分。Y型分子筛也用于加氢裂化、异构化及烷基化催化剂中。未经交换改性的NaY分子筛是一种高效的干燥剂。

以下列出山东久硕环保科技有限公司所产Y型分子筛典型产品品种,也可根据用户要求生产该系列其他产品:


NaY分子筛

具有较高的相对结晶度和硅铝比

相对结晶度≥88%,SiO₂/AI₂O₃摩尔比≥5.2


NaY质量控制指标


项目 单位 最小值 典型 最大值 分析方法
相对结晶度 % 87 90 X-射线衍射仪
总比表面 m²/g 680 700 N₂吸附仪
孔容 ML/g 0.35 N₂吸附仪
硅铝比 / 5.0 5.2 X-射线荧光光谱仪
Na₂O wt% 12.0 13.0 光焰光度计
灼减LOI wt% 18 22 重量分析
D,50 μm 5 6 激光粒度仪


RUSY-2稀土超稳Y分子筛

含RE₂O₃混合稀土≥1.5%

根据用户需要可以调节稀土中La₂O₃和CeO₂的比例

晶胞参数的大小可根据用户需要进行调节


RUSY-2质量控制指标


项目 单位 最小值 典型 最大值 析方法
相对结晶度 % 60 70 X-射线衍射仪
晶胞参数 ×10-10m 24.45 24.49 24.52 X-射线衍射仪
总比表面 m²/g 600 630 N₂吸附仪
Na₂O wt% 1.2 1.5 光焰光度计
SO4²- wt% 0.2 0.4 X-射线荧光光谱仪
RE₂O³ wt% 15 2.5 化学分析
灼减LOI wt% 8 10 重量分析
晶格崩塌温度 °C 1015 差热议
D,50 μm 5 6 激光粒度仪


RUSY-8稀土超稳Y分子筛

含RE₂O³混合氧化稀土≥7%

根据用户需要可以调节稀土中La₂O₃和CeO₂的比例

晶胞参数的大小可根据用户需求进行调节


RUSY-8质量控制指标


项目 单位 最小值 典型 最大值 分析方法
相对结晶度 % 52 57 X-射线衍射仪
晶胞参数 ×10-10m 24.52 24.56 24.60 X-射线衍射仪
总比表面 m²/g 590 620 N₂吸附仪
Na₂O wt% 1.5 1.8 光焰光度计
SO4²- wt% 0.2 0.4 X-射线荧光光谱仪
RE₂O³ wt% 7.0 8.5 9.0 化学分析
灼减LOI wt% 8 10 重量分析
晶格崩塌温度 °C 1010 差热议
D,50 μm 5 6 激光粒度仪


DAY-12低钠超稳高硅Y分子筛

Na₂O≤0.1%,SiO₂/AI₂O₃摩尔比≥10


DAY-12质量控制指标


项目 单位 最小值 典型 最大值 分析方法
相对结晶度 % 70 75 X-射线衍射仪
晶胞参数 ×10-10m 24.42 24.46 26.64 X-射线衍射仪
硅铝比 / 10 10.5 13 X-射线衍射仪
总比表面 m²/g 680 700 N₂吸附仪
Na₂O wt% 0.1 N₂吸附仪
SO4²- wt% 0.2 0.4 光焰光度计
灼减LOI wt% 15 重量分析
CI- wt% 0.2 0.4 激光粒度仪
D,50 μm 5 6


REY-16稀土Y型分子筛

含RE₂O³混合氧化稀土≥16.5%

根据用户需要可以调节稀土中La₂O₃和CeO₂的比例


REY-16质量控制指标


项目 单位 最小值 典型 最大值 分析方法
相对结晶度 % 45 50 X-射线衍射仪
晶胞参数 ×10-10m 24.68 24.72 X-射线衍射仪
总比表面 m²/g 550 590 N₂吸附仪
Na₂O wt% 1.5 1.8 光焰光度计
SO4²- wt% 0.2 0.4 X-射线荧光光谱仪
RE₂O³ wt%

16.5

17.0 化学分析
灼减LOI wt% 5 10 重量分析
晶格崩塌温度 °C 990 差热议
D,50 μm 975 5 6 激光粒度仪


USY-0超稳Y分子筛

氧化钠含量及晶胞参数大小可根据用户

需要进行调节


USY-0质量控制指标


项目 单位 最小值 典型 最大值 分析方法
相对结晶度 % 70 75 X-射线衍射仪
晶胞参数 ×10-10m 24.42 24.44 24.52 N₂吸附仪
总比表面 m²/g 600 630 N₂吸附仪
Na₂O wt% 1.2 1.5 X-射线荧光光谱仪
SO4²- wt% 0.2 0.4 光焰光度计
灼减LOI wt% 6 10 重量分析
晶格崩塌温度 °C 1030 激光粒度仪
D,50 μm 5 6 X-射线衍射仪


DAY-20低钠超稳高硅Y分子筛

Na₂O≤0.1%,SiO₂/AI₂O₃摩尔比≥18.5


DAY-20质量控制指标


项目 单位 最小值 典型 最大值 分析方法
相对结晶度 % 60 65 X-射线衍射仪
晶胞参数 ×10-10m 24.32 24.33 24.35 X-射线衍射仪
硅铝比 / 19 22 24 X-射线衍射仪
总比表面 m²/g 580 610 N₂吸附仪
孔容 ML/g 0.38 N₂吸附仪
Na₂O wt% 0.05 光焰光度计
灼减LOI wt% 7 10 重量分析
D,50 μm 5 6 激光粒度仪


DAY-25质量控制指标


项目 单位 最小值 典型 最大值 分析方法
相对结晶度 % 56 62 X-射线衍射仪
晶胞参数 ×10-10m 24.30 24.31 24.32 X-射线衍射仪
硅铝比 / 24 26 28 X-射线衍射仪
总比表面 m²/g 580 610 N₂吸附仪
孔容 ML/g 0.39 N₂吸附仪
Na₂O wt% 0.05 光焰光度计
灼减LOI wt% 10 重量分析
D,50 μm 6 激光粒度仪


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